












測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um

新聞資訊
News時間:03-30 2026 來自:祥宇精密
表面瑕疵根據(jù)形成原因和形態(tài)可分為:
這些瑕疵可能導(dǎo)致產(chǎn)品報廢、客戶投訴,甚至引發(fā)安全事故(如航空零件的裂紋可能導(dǎo)致結(jié)構(gòu)失效)。
祥宇影像測量儀通過高分辨率成像、多光源照明、智能圖像處理算法,實現(xiàn)對表面瑕疵的非接觸式、高精度、自動化檢測,其核心原理如下:
祥宇影像測量儀采用遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭(減少透視誤差)和高分辨率CCD相機(最高2000萬像素),可清晰捕捉微米級表面特征。通過調(diào)整放大倍率(從低倍宏觀觀察到高倍微觀分析),適應(yīng)不同尺寸和深度的瑕疵檢測需求。
表面瑕疵的檢測依賴于光線與表面的相互作用(反射、折射、散射)。祥宇影像測量儀配備多種照明模式,通過優(yōu)化光照條件,突出瑕疵與正常表面的差異:
祥宇影像測量儀搭載VisionX智能測量軟件,集成多種瑕疵檢測算法,實現(xiàn)對表面瑕疵的自動識別、分類和量化:
400-801-9255
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